28aSC-4 遷移金属をドープしたTiO_2エピタキシャル膜のXAS,XMCD測定(28aSC 領域9,領域3合同 表面・界面磁性,領域9(表面・界面,結晶成長))
書誌事項
- タイトル別名
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- 28aSC-4 XAS and XMCD measurements of transition metal doped TiO_2 epitaxial films
収録刊行物
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- 日本物理学会講演概要集
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日本物理学会講演概要集 61.1.4 (0), 873-, 2006
一般社団法人 日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001206007273344
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- NII論文ID
- 110007180316
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- ISSN
- 21890803
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles