26aRJ-4 反射高速陽電子回折における非弾性散乱過程の研究(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)

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タイトル別名
  • 26aRJ-4 Inelastic scattering process in reflection high-energy positron diffraction

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390282680997236864
  • NII論文ID
    110007192155
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.63.1.4.0_900_3
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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