23aYG-8 酸化物半導体ZnOの軟X線角度分解光電子分光(光分子分光・散乱(酸化物・強相関係),領域5,半導体,メゾスコピック系・局在)

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書誌事項

タイトル別名
  • 23aYG-8 Soft x-ray angle-resolved photoemission spectroscopy study of oxide semiconductor ZnO

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001206020060800
  • NII論文ID
    110007195047
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.63.1.4.0_690_3
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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