23aYG-8 酸化物半導体ZnOの軟X線角度分解光電子分光(光分子分光・散乱(酸化物・強相関係),領域5,半導体,メゾスコピック系・局在)
書誌事項
- タイトル別名
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- 23aYG-8 Soft x-ray angle-resolved photoemission spectroscopy study of oxide semiconductor ZnO
収録刊行物
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- 日本物理学会講演概要集
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日本物理学会講演概要集 63.1.4 (0), 690-, 2008
一般社団法人 日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001206020060800
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- NII論文ID
- 110007195047
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- ISSN
- 21890803
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles