2PJ-8 バイアス電圧を印加したTr素子の非破壊プロファイル : 電子線超音波顕微鏡(光音響,ポスターセッション(概要講演))  [in Japanese] 2PJ-8 Nondestructive Profiling of Tr-Chip Specimen Under Bias Application : Electron-Acoustic Microscopy  [in Japanese]

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Symposium on ultrasonic electronics   [List of Volumes]

Symposium on ultrasonic electronics (11), 154-155, 1990-11-20  [Table of Contents]

Steering committee of symposium on ultrasonic electronics

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Codes

  • NII Article ID (NAID) :
    110007460417
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID) :
    AN10578660
  • Text Lang :
    JPN
  • Databases :
    NII-ELS