P2-17 X-ray analysis of SAW-semiconductor coupled devices

P2-17 半導体/圧電体結合素子のX線回折によるトポグラフィック評価(ポスターセッション2,ポスター発表) [in Japanese] P2-17 X-ray analysis of SAW-semiconductor coupled devices [in Japanese]

- 中島勉 Nakajima T.
- 神奈川工科大学工学部 Faculty of Engineering, Kanagawa Institute of Technology
- 宮台賢一郎 Miyadai K.
- 神奈川工科大学工学部 Faculty of Engineering, Kanagawa Institute of Technology
- 兼城千波 Kaneshiro C.
- 神奈川工科大学工学部 Faculty of Engineering, Kanagawa Institute of Technology
- 青木裕介 Aoki Y.
- ハイテクリサーチセンター Faculty of Engineering, Kanagawa Institute of Technology
- 黄啓新 Koh K.
- 神奈川工科大学工学部:ハイテクリサーチセンター Faculty of Engineering, Kanagawa Institute of Technology
- 宝川幸司 Hohkawa K.
- 神奈川工科大学工学部:ハイテクリサーチセンター Faculty of Engineering, Kanagawa Institute of Technology

Symposium on ultrasonic electronics [List of Volumes]

Symposium on ultrasonic electronics (22), 205-206, 2001-11-07 [Table of Contents]

Steering committee of symposium on ultrasonic electronics