HDDのSER改善に向けた外来雑音影響抑圧の検討(信号処理及び一般) Examination of the External Interference Signals Reduction towards the SER improvement of HDD

抄録

HDDの高速データ転送化とともに、外来雑音によるエラーレートの劣化が大きくなった。そこで、外来雑音として、装置に流れる雑音電流、電磁波による誘導雑音に着目して、装置内部への侵入原因を明らかにした。(1)カバー・ベース間のインピーダンスが高いために、スピンドル等を介した内部の低インピーダンス部を雑音電流は流れる。(2)カバー・ベース・ネジで構成されるスロットで、電磁波による誘導共振が生じ、高周波電流が内部へ侵入する。対策は、銅テープでカバー・ベース間を短絡させ、低インピーダンス化、スロットサイズの小型化を実現した。エラーレート評価の結果、高周波電流の侵入抑圧が可能であることを示した。

High data rate of a HDD follows on progressing, and the error rate degradation by the external signal is becoming large. Its attention was paid to the interference signal by the EM wave or conductive signals in order to clarify the cause of invasion of the induced current inside DE. The causes are. (1) The impedance between cover and base is high, and since the impedance between the cover and base through the spindle inside the DE is lower, then interference current flow an inside. (2) About the slot which consists of cover, base and screws, the slot resonance phenomenon by the electromagnetic wave arises. The high frequency current near the resonance frequency invade the inside of the DE. The measure shows below. A metal tape is stuck on the mid portion of a slot, it makes size small. Furthermore, a metal tape makes short-circuits between cover and base, and makes lower impedance between them. Invasion of external interference signals are deterred and a SER improvement can be realized..

収録刊行物

電子情報通信学会技術研究報告. MR, 磁気記録   [巻号一覧]

電子情報通信学会技術研究報告. MR, 磁気記録 109(328), 27-34, 2009-12-03  [この号の目次]

一般社団法人電子情報通信学会

参考文献:  2件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID) :
    110008000199
  • NII書誌ID(NCID) :
    AN10013050
  • 本文言語コード :
    JPN
  • 資料種別 :
    ART
  • ISSN :
    09135685
  • NDL 記事登録ID :
    10509887
  • NDL 雑誌分類 :
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号 :
    Z16-940
  • 収録DB :
    CJP書誌  NDL  NII-ELS