依頼講演 A 65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy Flip-Flop capable of protecting soft errors on the C-element

• 古田 潤

• 濱中 力

• 小林 和淑

書誌事項

タイトル別名

• イライ コウエン A 65nm Bistable Cross coupled Dual Modular Redundancy Flip Flop capable of protecting soft errors on the C element
• 依頼講演 C-elementのソフトエラー耐性を強化した65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy (BCDMR) FF
• 集積回路
• シュウセキ カイロ

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 110 (183), 121-124, 2010-08

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• ソフトエラー
• 信頼性
• 多重化
• フリップフロップ
• Soft Error
• Reliability
• Multiple Modular Redundancy
• Flip-Flop

詳細情報

• CRID: 1520290882591040384
• NII論文ID: 110008095011
• NII論文ID: 110008095057
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 10817868
• NDL書誌ID: 10817440
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I10817868
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I10817440
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles