依頼講演 A 65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy Flip-Flop capable of protecting soft errors on the C-element
書誌事項
- タイトル別名
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- イライ コウエン A 65nm Bistable Cross coupled Dual Modular Redundancy Flip Flop capable of protecting soft errors on the C element
- 依頼講演 C-elementのソフトエラー耐性を強化した65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy (BCDMR) FF
- 集積回路
- シュウセキ カイロ
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 110 (183), 121-124, 2010-08
東京 : 電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520290882591040384
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- NII論文ID
- 110008095011
- 110008095057
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- NII書誌ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- 本文言語コード
- en
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles