ACT-1-3 デジタルアシスト・アナログRFテスト技術 : サブ100nmミックストシグナルSoCテストの考察(ACT-1.サブ100nm時代のCMOSアナログ技術-,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)

• 小林 春夫

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 新津 葵一

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 高井 伸和

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 山口 隆弘

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

抄録

この論文ではミックストシグナルSoCのアナログ部のテストに関して現状と問題点を示し,次の2つの内容について考察する.(i)デジタル自己校正やデジタル誤差補正を用いてアナログRF回路を高性能化するデジタルアシストアナログ技術が微細CMOSを用いたSoC内で多用されつつある.この製造出荷時テスト法に関する考察を行う.(ii)微細CMOS SoC内ではDSPコア,メモリ等の豊富なデジタル回路を有する場合が多い.これらを利用してSoC内アナログRF回路のテストを容易化する技術について考察する.

収録刊行物

• 電子情報通信学会総合大会講演論文集

  電子情報通信学会総合大会講演論文集 2011 (2), "SS-45"-"SS-48", 2011-02-28

  一般社団法人電子情報通信学会

キーワード

• デジタルアシスト・アナログ技術
• デジタルアシスト・アナログRFテスト技術
• テスト容易化
• 自己校正
• デジタル誤差補正

詳細情報

• CRID: 1570572702064384640
• NII論文ID: 110008512590
• NII書誌ID: AN10471452
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles