対数正規分布に基づく加速寿命試験のD最適計画

  • 熊崎 千晴
    電気通信大学大学院情報理工学研究科総合情報学専攻
  • 鈴木 和幸
    電気通信大学大学院情報理工学研究科総合情報学専攻
  • 山本 渉
    電気通信大学電気通信学部

書誌事項

タイトル別名
  • D-optimal Design for Accelerated Life Tests for Lognormal Life Distributions
  • タイスウ セイキ ブンプ ニ モトズク カソク ジュミョウ シケン ノ D サイテキ ケイカク

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抄録

製品の寿命特性を明らかにするために,通常の使用条件より厳しいストレス環境下での寿命を測定する加速寿命試験が一般に行われる.寿命特性値の推定は加速寿命モデルに基づいて行うが,適切なモデルの下で限られた試験時間とサンプル数により効率的に試験を行うことが望ましい.本研究では対数正規寿命分布の下での2つの因子(例えば,温度と湿度)によりモデル化された加速寿命試験を対象として,試験時間とサンプル数の制約下で寿命推定精度を最良にする試験配置の導出を行った.その結果,D最適基準の下での最適配置は因子水準の広さと故障確率によって決まるが,これらはトレードオフの関係にあること,そしてサンプル配分は故障確率が0.8程度であれば等配分で十分であることが確認できた.また最適な試験配置の導出において,過去の情報からモデルのパラメータ推定値が与えられている時に,それが真のパラメータ値と異なった場合の推定精度への影響についても議論した.

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