フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価 (ディペンダブルコンピューティング) Evaluation of a thermal and voltage estimation circuit for field test

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著者

    • 三宅 庸資 MIYAKE Yousuke
    • 九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構CREST Kyushu Institute of Technology:JST, CREST
    • 佐藤 康夫 SATO Yasuo
    • 九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構CREST Kyushu Institute of Technology:JST, CREST
    • 梶原 誠司 [他] KAJIHARA Seiji
    • 九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構CREST Kyushu Institute of Technology:JST, CREST
    • 宮瀬 紘平 MIYASE Kohei
    • 九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構CREST Kyushu Institute of Technology:JST, CREST
    • 三浦 幸也 MIURA Yukiya
    • 首都大学東京システムデザイン学部情報通信システム工学コース:独立行政法人科学技術振興機構CREST Tokyo Metropolitan University:JST, CREST

抄録

VLSIの組み込まれたシステムには高いディペンダビリティが要求されるものもある.VLSIの高機能化や高性能化,製造プロセスの微細化に伴い,劣化等により生じるVLSIの故障を事前に検知し,障害発生による突然のシステムダウンを回避することが重要になっている.劣化現象として回路遅延の増加が知られているが,フィールドテストでの遅延測定では,VLSIの温度や電圧等の環境要因による遅延への影響を考慮する必要がある.本論文では,フィールドテスト時に温度・電圧を測定,環境要因の影響を排除した高精度な遅延測定を実現するため,リングオシレータを核とする温度・電圧推定回路の試作と,試作した温度・電圧推定回路から得られる温度・電圧変化特性の測定および評価に関する関して述べる.

High dependability is required for an embedded system VLSI. High functionality and high performance of VLSI, due to the miniaturization of the manufacturing process, increase a performance deterioration caused by various aging mechanisms of VLSI circuits. Therefore, it is important to avoid a system down due to a sudden failure of VLSI due to an aging. The increase of a circuit delay is known as a typical aging phenomenon of a VLSI. However, the delay measurement for detecting aging on field needs to take account of the influence of thermal and voltage fluctuations. In this paper, for achieving highly accurate delay measurements that eliminate the effects of environmental factors, we show the test-chip design and evaluations of the thermal and voltage monitors, which consist of dedicated Ring-Oscillators, and discuss the estimation accuracy of temperature and voltage.

収録刊行物

  • 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報

    電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報 111(435), 61-66, 2012-02-13

    一般社団法人電子情報通信学会

被引用文献:  2件中 1-2件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110009481751
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11645397
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    雑誌論文
  • ISSN
    0913-5685
  • NDL 記事登録ID
    023493980
  • NDL 請求記号
    Z16-940
  • データ提供元
    CJP引用  NDL  NII-ELS 
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