大規榎集積回路の信頼性ホットスポット見える化に関する一試行

• 木下 克也

• 鷲見 知彦

• 石原 完

書誌事項

タイトル別名

• ダイキエノキ シュウセキ カイロ ノ シンライセイ ホットスポット ミエル カ ニ カンスル イチ シコウ
• A Trial for Reliability Hot spot Visualization for Large-scale Integrated Circuits
• コンピュータシステム 組込み技術とネットワークに関するワークショップETNET2013
• コンピュータ システム クミコミ ギジュツ ト ネットワーク ニ カンスル ワークショップ ETNET2013

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112 (481), 103-108, 2013-03

  東京 : 電子情報通信学会

詳細情報

• CRID: 1520290882463338240
• NII論文ID: 110009551170
• NII論文ID: 110009713138
• NII論文ID: 110009712973
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 024407615
• NDL書誌ID: 024420013
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I024407615
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I024420013
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles