大規模集積回路の信頼性ホットスポット見える化に関する一試行

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タイトル別名
  • A Trial for Reliability Hot spot Visualization for Large-scale Integrated Circuits

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抄録

集積回路の微細化技術の進展と伴に複雑化する信頼性ホットスポットの問題に対して，電源ノイズおよび経年劣化を考慮したタイミングエラーの起きる危険度を「見える化」した．Windows PCで「見える化」システムの構築を行い，多層化による危険個所の浮き彫りを行うことができた．本表示システムは，汎用性が高く，今後の「見える化」システムの基盤として使用していくことができることを確認した．In recent large-scale integrated circuit, hot spot for reliability becomes a complicated function. This paper has visualized the risks by noise of power gating, rising time, power consumption, timing, etc. The visualization system is built by Windows PC and the dangerous place is high-lighted by the multi-layered visualization system. This display system has high flexibility. We have checked that it can be used as a base of future "visualization" system.

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1571417127873805568
  • NII論文ID
    110009551218
  • NII書誌ID
    AA12149313
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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