組込み自己テストによって高電磁環境下の周期的過渡故障を回避するプロセッサ

• 根岸 正彦

• サイサナソンカム アロムハック

• 新井 雅之

書誌事項

タイトル別名

• クミコミ ジコ テスト ニ ヨッテ コウデンジ カンキョウ カ ノ シュウキテキ カト コショウ オ カイヒ スル プロセッサ
• A Processor to Tolerate Periodical Transient Faults under Highly Electromagnetic Environment by Using Built in Self Test
• ディペンダブルコンピューティング
• ディペンダブルコンピューティング

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112 (3), 1-6, 2012-04-10

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 耐過渡故障回路方式
• オンラインBIST
• 電磁放射
• DC-ACインバータ
• transient fault tolerant circuit
• on-line functional BIST
• electromagnetic radiation
• DC-AC inverter

詳細情報

• CRID: 1520290882619394304
• NII論文ID: 110009564258
• NII論文ID: 10031158481
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 023620016
• NDL書誌ID: 023619747
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023620016
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023619747
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles