フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討 Design of temperature and voltage monitoring circuit structure for field test

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抄録

システムの信頼性の確保のために,フィールドでのLSIの劣化による回路遅延の増加を,障害の発生する前に検知する必要がある.LSIの劣化は,フィールドでの回路の遅延値を繰り返し測定することで,検知が可能と考えられる.しかし測定される遅延値は,温度や電圧等のシステムの動作環境によって大きく変動するため,これらの環境要因による量を把握し,測定遅延値から劣化遅延成分のみを取り出す必要がある.この温度と電圧は,チップ内に配置した複数種類のリングオシレータの周波数から推定する方法が提案されている.本研究は,温度と電圧の推定精度向上のために,リングオシレータの回路構成と最適な組み合わせ方法を検討する.

For improving reliability of LSIs, the delay increase caused by aging during system operation should be detected before a system failure occurs. Such a delay increase can be detected by repeatedly measuring a circuit delay in field. However, the measured delay tends to vary a lot depending on temperature and voltage variations, therefore, it is necessary to get an accurate delay increase without these variations. A method has been proposed that estimates temperature and voltage from the frequencies of the multiple ring-oscillators on a chip. This paper tries to find the best configuration of the ring-oscillators in order to improve its estimation accuracy.

収録刊行物

  • 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report

    電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング : IEICE technical report 112(321), 243-248, 2012-11-19

    一般社団法人電子情報通信学会

参考文献:  14件中 1-14件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110009642164
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11645397
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    0913-5685
  • NDL 記事登録ID
    024151012
  • NDL 請求記号
    Z16-940
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  NII-ELS 
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