4.6 オンチップ回路による高精度遅延計測(第4章:素子特性ばらつき,<特集>ディペンダブルVLSIシステム)

• 三浦 幸也

  首都大学東京

• 佐藤 康夫

  九州工業大学

• 梶原 誠司

  九州工業大学

書誌事項

タイトル別名

• 4.6 Highly Accurate Delay Time Measurement by an On-Chip Circuit(4. Variations in Device Characteristics,<Special Survey>Dependable VLSI System)

収録刊行物

• 日本信頼性学会誌　信頼性

  日本信頼性学会誌　信頼性 35 (8), 451-, 2013

  日本信頼性学会

詳細情報

• CRID: 1390282679429734528
• NII論文ID: 110009688247
• DOI: 10.11348/reajshinrai.35.8_451
• ISSN: 24242543
• ISSN: 09192697
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles