30a-LD-2 Si-MOSFETの電気伝導度のfluctuations(半導体)

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  • CRID
    1390282681177357568
  • NII論文ID
    110009722036
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyod.42.2.0_179_1
  • ISSN
    24331139
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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