モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法 (ディペンダブルコンピューティング) Temperature and voltage estimation considering manufacturing variability for a monitoring circuit

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抄録

VLSIの微細化に伴い,劣化による回路遅延の増加が問題となっている 劣化による遅延の増加を検出するにはフィールドテストで高精度な遅延測定を行うことが有効であるが,その際には,温度や電圧の遅延への影響を考慮する必要がある チップ内の温度と電圧は,リングオシレータで構成される温度・電圧モニタ回路を用いて推定する方法が提案されている モニタ回路における製造プロセスのバラツキはリングオシレータの周波数に大きな影響を及ぼすため,高精度な温度・電圧推定を行うには製造バラツキの影響を考慮する必要がある.本論文では,製造バラツキが温度・電圧推定に与える影響を低減するため,モニタ回路における製造バラツキの影響を考慮した温度・電圧推定手法について述べる.

Delay increase due to aging phenomena is a critical issue of VLSIs For detecting such increase in field, a highly accurate delay measurement technology that considers the influence by temperature and voltage is strongly needed A method has been proposed that estimates chip temperature and voltage using a ring-oscillator-based monitonng circuit However, frequencies of the ring-oscillators are greatly influenced by process vanation Thus, we need to take into account the process variation for the accurate estimation of temperature and voltage. This paper discusses estimation of temperature and voltage considenng process variation for the momtonng circuit.

収録刊行物

  • 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報

    電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報 112(429), 55-60, 2013-02-13

    一般社団法人電子情報通信学会

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110009728048
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11645397
  • 本文言語コード
    JPN
  • ISSN
    0913-5685
  • NDL 記事登録ID
    024342659
  • NDL 請求記号
    Z16-940
  • データ提供元
    NDL  NII-ELS 
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