B-4-47 暗号処理時に生ずる漏えい電磁信号とハミング距離の関係(B-4.環境電磁工学,一般セッション)

• 佐々木 匠

  東北大学

• 林 優一

  東北大学

• 水気 敬明

  東北大学

• 曽根 秀昭

  東北大学

書誌事項

タイトル別名

• Relationship between the leaked EM signal value and the hamming distance during the cryptographic processing

収録刊行物

• 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集

  電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集 2013 (1), 357-, 2013-09-03

  一般社団法人電子情報通信学会

詳細情報

• CRID: 1570854177942513920
• NII論文ID: 110009729511
• NII書誌ID: AN10489017
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles