27pPSA-1 MOS-Si界面領域の断面STM/STS測定(領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))

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書誌事項

タイトル別名
  • Cross-sectional STM/STS measurements at the interface region of MOS-Si

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205992081536
  • NII論文ID
    110009756258
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.68.2.4.0_807_2
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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