25pKA-4 Si基板上にナノワイヤー結晶から成長させたGaAs薄膜の評価(格子欠陥・ナノ構造(転位・面欠陥),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

• 松岡 寛

  金沢大自然

• 藤下 豪司

  金沢大自然

• 水野 薫

  島根大総合理工

• 村上 潤

  島根大総合理工

• 岡本 博之

  金沢大保健

• 山口 博隆

  産総研

• Prete Paora

  IME-CNR

書誌事項

タイトル別名

• Characterization of GaAs thin film grown from nano-wire crystals on Si

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 68.2.4 (0), 840-, 2013

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390282680967163520
• NII論文ID: 110009756390
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.68.2.4.0_840_2
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles