微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗変動のモデリング(5)

• 和田 真一

• 越田 圭治

• 久保田 洋彰

書誌事項

タイトル別名

• ビシュウドウ キコウ ニ ヨル デンキ セッテン ノ レッカ ゲンショウ : セッショク テイコウ ヘンドウ ノ モデリング(5)
• Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism : Modeling about Fluctuation of Contact Resistance(5)
• 非線形問題
• ヒセンケイ モンダイ

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113 (486), 67-72, 2014-03

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 電気接点
• 微小振動
• 接触抵抗
• 微摺動機構
• 非線形性
• 位相面解析
• 軌道
• 分岐
• electrical contact
• micro-oscillation
• contact resistance
• micro-sliding mechanism
• non-linearity
• phase plane analysis
• orbit
• bifurcation

詳細情報

• CRID: 1520572359034120704
• NII論文ID: 110009862178
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 025403472
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025403472
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles