8aAV-6 測定分解能のゆらぎの定理への影響 : 二点測定による理論考察(8aAV 量子細線・量子ドット,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))

• 山田 康博

  東大院工

• 今田 正俊

  東大院工

書誌事項

タイトル別名

• 8aAV-6 Influence of resolution limit on fluctuation theorem studied by a two-point measurement scheme

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 69.2.4 (0), 474-, 2014

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390282680942986496
• NII論文ID: 110009875729
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.69.2.4.0_474_4
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles