C-4-17 光負帰還法を用いた半導体レーザ線幅狭窄化における正帰還の影響(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス,一般セッション)

• 青山 康之祐

  東北大学電気通信研究所

• 児玉 直紀

  東北大学電気通信研究所

• 横田 信英

  東北大学電気通信研究所

• 八坂 洋

  東北大学電気通信研究所

書誌事項

タイトル別名

• C-4-17 Effect of Positive Feedback on LD Linewidth Reduction using Optical Negative Feedback

収録刊行物

• 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集

  電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集 2014 (1), 171-, 2014-09-09

  一般社団法人電子情報通信学会

詳細情報

• CRID: 1571980077761395456
• NII論文ID: 110009881977
• NII書誌ID: AN10489017
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles