C-8-2 HTS-SQUIDを用いた試料回転式磁化率計の試料形状最適化による高感度計測法の検討(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)

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タイトル別名
  • C-8-2 Highly Sensitive Measurement Method by Optimizing Sample Shape Using HTS-SQUID Based Rotating Sample Magnetometer

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1572543027714976768
  • NII論文ID
    110009882198
  • NII書誌ID
    AN10489017
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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