論理BISTにおけるスキャンイン電力制御回路のTEG評価について

• 加藤 隆明

• 喜納 猛

• 三宅 庸資

Bibliographic Information

Other Title

• ロンリ BIST ニ オケル スキャンイン デンリョク セイギョ カイロ ノ TEG ヒョウカ ニ ツイテ
• Design and evaluation of circuits to control scan-in power in logic BIST
• ディペンダブルコンピューティング デザインガイア2013 : VLSI設計の新しい大地
• ディペンダブルコンピューティング デザインガイア 2013 : VLSI セッケイ ノ アタラシイ ダイチ

Journal

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113 (321), 233-238, 2013-11

  東京 : 電子情報通信学会

Keywords

• BIST
• スキャンテスト
• 低消費電力化
• スキャンイン電力
• scan test
• low power dissipation
• scan-in power

Details

• CRID: 1520290885121141632
• NII Article ID: 110009889474
• NII Article ID: 110009886254
• NII Book ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL BIB ID: 025087780
• NDL BIB ID: 025089757
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025087780
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025089757
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles