依頼講演 抵抗変化メモリにおけるナノ導通フィラメントの抵抗の温度依存性

• 大塚 慎太郎

• 濱田 佳典

• 清水 智弘

書誌事項

タイトル別名

• イライ コウエン テイコウ ヘンカ メモリ ニ オケル ナノ ドウツウ フィラメント ノ テイコウ ノ オンド イソンセイ
• Temperature Dependence of Resistance of Conductive Nano-filament in Resistance Change Memory
• シリコン材料・デバイス
• シリコン ザイリョウ ・ デバイス

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114 (88), 75-78, 2014-06-19

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 抵抗変化メモリ
• ナノ導通フィラメント
• 抵抗の温度依存性
• 温度係数
• Ni/TiO₂/Pt
• Ni/HfO₂/Pt
• Resistive switching memory
• ReRAM
• nano conductive filament
• temperature dependence of resistance
• temperature coefficients of resistance

詳細情報

• CRID: 1520009409080554752
• NII論文ID: 110009925382
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 025590336
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025590336
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles