低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法

• 李 富強

• 温 暁青

• 宮瀬 紘平

書誌事項

タイトル別名

• テイキャプチャ デンリョク スキャンテスト セイセイ ノ タメ ノ X ウメ コミ シュホウ
• An X-Filling Method for Low-Capture-Power Scan Test Generation
• ディペンダブルコンピューティング
• ディペンダブルコンピューティング

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114 (99), 15-20, 2014-06-20

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 低キャプチャ電力
• IRドロップ
• ローカル遷移率
• スキャンテスト
• Low Capture Power
• IR-Drop Local Switching Activity
• At-Speed Scan Test

詳細情報

• CRID: 1520853832574434432
• NII論文ID: 110009925706
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 025588837
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025588837
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles