マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測

• 桃田 快

• 遠藤 幸一

• 御堂 義博

書誌事項

タイトル別名

• マルコフ レンサ モデル ニ ヨル ハンドウタイ ソシ レッカ ・ ジュミョウ ヨソク
• Prediction of Performance Degradation and Lifetime for Semiconductor Devices Using Markov Chain Model
• 信頼性
• シンライセイ

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114 (314), 1-5, 2014-11-20

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 故障の確率モデル
• 寿命データ解析
• マルコフ連鎖モデル
• 劣化予測
• 寿命予測
• ゲートリーク電流
• Time-to-failure modeling
• Time-to-failure statistics
• Markov chain model
• degradation prediction
• lifetime prediction
• gate leakage current

詳細情報

• CRID: 1520290882620678272
• NII論文ID: 110009962303
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 025981068
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025981068
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles