FPGAのリングオシレータにおけるNBTI劣化量の低減と制御に関する検討 (ディペンダブルコンピューティング) Study on reduction and control of NBTI-induced degradation in FPGA-based ring oscillators

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抄録

リングオシレータはLSIやFPGAの信頼性向上の様々な用途に使われているが,NBTI等の物理劣化現象による特性の悪化が問題となっている.本論文では,FPGAで構成されたリングオシレータにおいて,非動作時のルックアップテーブルの入力値を適切に制御することにより,その劣化量を低減あるいは制御可能であることを示す.また様々な構成のリングオシレータの測定周波数を比較することにより,それらの劣化量の関係についても論じる.

Ring oscillators are used for variety of applications to enhance reliability on LSIs or FPGAs; however, the performance degradation caused by physial aging phenomena such as NBTI is becoming a crucial issue. This paper proposes a design technology that reduces or controls the degradation of ring oscillators. The input values of look-up tables that constitute the oscillators are properly controlled during the off-state while the oscillator is not working. Further, the relation of the degradation amounts is discussed by comparing frequencies of plural oscillators.

収録刊行物

  • 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

    電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114(384), 1-6, 2014-12-19

    一般社団法人電子情報通信学会

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110009977159
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11645397
  • 本文言語コード
    JPN
  • ISSN
    0913-5685
  • NDL 記事登録ID
    026027327
  • NDL 請求記号
    Z16-940
  • データ提供元
    NDL  NII-ELS 
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