19aCA-5 4端子電気伝導測定によるMnX/Bi_2X_3 (X=Se, Te)薄膜の輸送特性

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タイトル別名
  • 19aCA-5 Transport property of MnX/Bi_2X_3 (X = Se, Te) thin film studied by four-point probe resistance measyrements

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390282680933956096
  • NII論文ID
    110010029945
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.70.2.0_2363
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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