19aCA-5 4端子電気伝導測定によるMnX/Bi_2X_3 (X=Se, Te)薄膜の輸送特性
書誌事項
- タイトル別名
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- 19aCA-5 Transport property of MnX/Bi_2X_3 (X = Se, Te) thin film studied by four-point probe resistance measyrements
収録刊行物
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- 日本物理学会講演概要集
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日本物理学会講演概要集 70.2 (0), 2363-, 2015
一般社団法人 日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680933956096
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- NII論文ID
- 110010029945
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- ISSN
- 21890803
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles