17pAH-11 Niインターカレートされた層状半導体TiS_2表面の電子状態の解析

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タイトル別名
  • 17pAH-11 Electronic structure analyses of Ni-intercalated layered semiconductors TiS_2

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205955001472
  • NII論文ID
    110010031348
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.70.2.0_1599
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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