19pAQ-7 電荷積分型SOI二次元検出器SOPHIASを用いたX線回折/X線小角散乱実験の状況

• 橋本 亮

  KEK物構研

• 新井 康夫

  KEK素核研

• 初井 宇記

  理研

• 五十嵐 教之

  KEK物構研

• 工藤 統吾

  理研

• 熊井 玲児

  KEK物構研

• 三好 敏喜

  KEK素核研

• 岸本 俊二

  KEK物構研

書誌事項

タイトル別名

• 19pAQ-7 Status of the X-ray Diffraction/Small Angle X-ray Scattering Experiments using the SOPHIAS detector

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 71.1 (0), 2675-, 2016

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390282680935995392
• NII論文ID: 110010058607
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.71.1.0_2675
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles