著者名	論文名	雑誌名	ISSN	出版者名	出版日付	巻	号	ページ	URL	URL(DOI)
Hu  Cheng-Yu,Hashizume  Tamotsu	Non-localized trapping effects in AlGaN/GaN heterojunction field-effect transistors subjected to on-state bias stress	Journal of Applied Physics	0021-8979	American Institute of Physics	2012-04-15	111	8	084504	http://ci.nii.ac.jp/naid/120004146567/	info:doi/10.1063/1.4704393