やさしい材料解析技術　アトムプローブＦＩＭによる超微細領域分析

• 宝野 和博

  東北大学金属材料研究所

• 桜井 利夫

  東北大学金属材料研究所

書誌事項

タイトル別名

• Nano-scale characterization of materials by atom probe field ion microscopy.
• アトム プローブ FIM ニ ヨル チョウ ビサイ リョウイキ ブンセキ ヤサ

抄録

記事分類: 化学・化学工業--化学実験・分析化学--光分析・電磁気分析

収録刊行物

• 軽金属

  軽金属 42 (4), 236-247, 1992

  一般社団法人 軽金属学会

キーワード

• Materials Chemistry
• Metals and Alloys
• Mechanical Engineering
• Mechanics of Materials

詳細情報

• CRID: 1390282681314641920
• NII論文ID: 130004209226
• NII論文ID: 10002957500
• NII書誌ID: AN00069773
• DOI: 10.2464/jilm.42.236
• COI: 1:CAS:528:DyaK38XktFaht7g%3D
• ISSN: 18808018
• ISSN: 04515994
• ISSN: http://id.crossref.org/issn/04515994
• NDL書誌ID: 3771012
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I3771012
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles