Partial Inspection and 2-color CT Material Analysis with 950kev/3.95Mev X-Band Linac

• 武 文晶

  東京大学

• Zhu Haitao

  東京大学

• 金 明

  東京大学

• 土橋　 克広

  東京大学

• 藤原　 健

  東京大学

• 上坂　 充

  東京大学

• 草野　 譲一

  アキュセラ

• 中村　 直樹

  アキュセラ

• 田辺　 英二

  アキュセラ

• 須長 秀行

  理化学研究所

• 大竹 淑恵

  理化学研究所

抄録

Application of portable 950keV/3.95Mev X-band linac to NDE of bridges, NPPs and architectures is studied with consideration of partial CT. Filtered Back Projection is adopted as reconstruction algorithm after comparison with other methods for fast computation and better material resolution. Material component analysis would also be implemented based on 2-color CT.

収録刊行物

• 日本原子力学会　年会・大会予稿集

  日本原子力学会　年会・大会予稿集 2013s (0), 112-, 2013

  一般社団法人 日本原子力学会

詳細情報

• CRID: 1390282680700497024
• NII論文ID: 130004569222
• DOI: 10.11561/aesj.2013s.0.112.0
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可