放射光STMによるナノスケールでの表面分析(II) -絶縁被膜探針によるS/N比向上-

• 高木 康多

  理研/SPring-8

• 齋藤 彰

  理研/SPring-8 阪大院工 科学技術振興機構ICORP

• 高橋 浩史

  理研/SPring-8 阪大院工

• 細川 博正

  理研/SPring-8 阪大院工

• 花井 和久

  理研/SPring-8 阪府大院工

• 中松 健一郎

  兵庫県立大高度研

• 松井 真二

  兵庫県立大高度研

• 田中 義人

  理研/SPring-8

• 三輪 大五

  理研/SPring-8

• 矢橋 牧名

  JASRI/SPring-8

• 石川 哲也

  理研/SPring-8

• 辛 埴

  理研/SPring-8

• 桑原 裕司

  理研/SPring-8 阪大院工 科学技術振興機構ICORP

• 青野 正和

  科学技術振興機構ICORP 物材機構ナノマテ研

書誌事項

タイトル別名

• Nano-scale Surface Analysis using SR-STM system (II)

抄録

我々は放射光STM装置を用い実空間ナノスケールで元素識別を試みているが，元素分析をより明確に測定するためには信号のS/N比の向上が不可欠である。その中で様々な条件での測定から放射光により試料から発生する二次電子がS/N比に大きな影響を与えていることが明らかになった。今回はこの影響を減らすため先端以外を絶縁膜で覆ったSTM探針を開発し測定を行った。講演ではこの絶縁膜の効果について詳しく発表する。<BR>この講演は「放射光STMによるナノスケールでの表面分析(I)」との連続講演を希望します。

収録刊行物

• 表面科学講演大会講演要旨集

  表面科学講演大会講演要旨集 26 (0), 239-239, 2006

  公益社団法人 日本表面科学会

詳細情報

• CRID: 1390282680622145792
• NII論文ID: 130004673503
• DOI: 10.14886/sssj.26.0.239.0
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可