高分解能RBS法による[C<SUB>n</SUB>MIM][TFSI]表面の分析

• 中嶋 薫

  京大工

• 大野 敦史

  京大工

• 鈴木 基史

  京大工

• 木村 健二

  京大工

書誌事項

タイトル別名

• Surface Analysis of [C<SUB>n</SUB>MIM][TFSI] by high-resolution Rutherford backscattering spectroscopy

抄録

高分解能RBS法を用いて、イオン液体[C_nMIM][TFSI] (n=2,4,6)の表面の深さプロファイルを測定した。カチオンのアルキル鎖が短いとき（n=2）はアニオンのフッ素が最表面に偏在する傾向が見られたが、アルキル鎖が長くなるともにその傾向が弱まり、代わって炭素が表面に偏在する傾向が強くなった。このことはアニオンのアルキル鎖が真空側を向いて配向していることを示している。

収録刊行物

• 表面科学学術講演会要旨集

  表面科学学術講演会要旨集 30 (0), 100-100, 2010

  公益社団法人 日本表面真空学会

詳細情報

• CRID: 1390001205677596288
• NII論文ID: 130005037876
• DOI: 10.14886/sssj2008.30.0.100.0
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可