SOBINMFによる眼電自動除去システム

• 椿田 紘久

  早稲田大学大学院先進理工学研究科電気・情報生命専攻

• 小野 弓絵

  明治大学理工学部電気電子生命学科

• 石山 敦士

  早稲田大学大学院先進理工学研究科電気・情報生命専攻

書誌事項

タイトル別名

• SOBINMF for Automatic Removal of Ocular Artifacts from the EEG
• SOBINMF ニ ヨル ガンデンジドウ ジョキョ システム

抄録

This paper introduces a novel method to automatically remove electro-oculogram (EOG) from electroencephalogram (EEG) using second-order blind identification (SOBI) and nonnegative matrix factorization (NMF). To demonstrate the effectiveness of the proposed method, we applied SOBI, NMF, or combined SOBI and NMF (SOBINMF) to the EEG data during motor imagery task in which participants imagined moving their left or right hand. Ocular artifacts were removed more effectively in our proposed SOBINMF method compared to SOBI or NMF alone.

収録刊行物

• 電気学会論文誌Ｃ（電子・情報・システム部門誌）

  電気学会論文誌Ｃ（電子・情報・システム部門誌） 135 (8), 954-962, 2015

  一般社団法人 電気学会

キーワード

• 脳波
• 眼電ノイズ
• SOBI
• 非負行列因子分解

詳細情報

• CRID: 1390282679584382208
• NII論文ID: 130005090617
• NII書誌ID: AN10065950
• DOI: 10.1541/ieejeiss.135.954
• ISSN: 13488155
• ISSN: 03854221
• NDL書誌ID: 026676931
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I026676931
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejeiss/135/8/135_954/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可