クラスターSIMS法による脂質薄膜の構造評価

• 松尾 二郎

  京都大学大学院　工学研究科

• 中川 駿一郎

• 志戸本 祥

• 鳥居 聡太

• 瀬木 利夫

• 青木 学聡

書誌事項

タイトル別名

• Cluster SIMS analysis of lipid thin films

抄録

細胞膜などで普遍的にみられる脂質薄膜をクラスターSIMS法で評価した。ソフトなイオン化法であるクラスターSIMS法は、脂質分子を壊すことなくイオン化でき、構造評価に適した手法である。また、ラットの脳切片などへの応用も示す。

収録刊行物

• 表面科学学術講演会要旨集

  表面科学学術講演会要旨集 32 (0), 262-, 2012

  公益社団法人 日本表面真空学会

詳細情報

• CRID: 1390001205679149056
• NII論文ID: 130005456604
• DOI: 10.14886/sssj2008.32.0_262
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可