FIM/FEMを用いた先鋭化したシャープペンシル芯の構造評価
書誌事項
- タイトル別名
-
- Structural characterization of sharpened mechanical pencil lead by means of FIM/FEM
抄録
炭素ナノ構造体は低電界で良好な電子放出特性を有する。我々は垂直配向したグラファイトエッジを有するシャープペンシル芯断面を電子源として利用し、その電子放出特性が極めて良好であることを示した。しかし、先端形状が複雑であるために電子放出の起源となる電子放出サイトの同定は困難であった。そこで、先鋭化し形状を単純化したシャープペンシル試料にFIM/FEM計測を行うことでエミッタ形状と電子放出の関係を調べる。
収録刊行物
-
- 表面科学学術講演会要旨集
-
表面科学学術講演会要旨集 35 (0), 293-, 2015
公益社団法人 日本表面真空学会
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1390001205678290432
-
- NII論文ID
- 130005489359
-
- データソース種別
-
- JaLC
- CiNii Articles
-
- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可