ラウエ型湾曲結晶分光器による高感度XAFS

• 脇坂 祐輝

  北海道大学触媒科学研究所

• 岩崎 裕也

  北海道大学触媒科学研究所

• 上原 広充

  北海道大学触媒科学研究所

• 向井 慎吾

  北海道大学触媒科学研究所

• 城戸 大貴

  北海道大学触媒科学研究所

• 高草木 達

  北海道大学触媒科学研究所

• 上村 洋平

  自然科学研究機構分子科学研究所

• 和田 敬広

  東京医科歯科大学大学院医歯学総合研究科

• YUAN Qiuyi

  北海道大学触媒科学研究所

• 関澤 央輝

  電気通信大学燃料電池イノベーション研究センター

• 宇留賀 朋哉

  電気通信大学燃料電池イノベーション研究センター 高輝度光科学研究センター

• 岩澤 康裕

  電気通信大学燃料電池イノベーション研究センター

• 朝倉 清高

  北海道大学触媒科学研究所

書誌事項

タイトル別名

• Approach to Highly Sensitive XAFS by Means of Bent Crystal Laue Analyzers
• ラウエガタ ワンキョク ケッショウ ブンコウキ ニ ヨル コウカンド XAFS

抄録

A log-spirally bent crystal Laue analyzer has been investigated and developed for highly sensitive in situ surface X-ray absorption fine structure (XAFS) measurement. Both calculations and experiments were conducted to obtain its intensity distributions on the different positions of the analyzer. A home-made log-spirally bent crystal Laue analyzer was made and evaluated. It was revealed that higher XAFS signals were obtained with the home-made analyzer than with the commercial one.

収録刊行物

• 表面科学

  表面科学 38 (8), 378-383, 2017

  公益社団法人 日本表面科学会

キーワード

• high-sensitive XAFS for ultra-dilute system
• bent crystal Laue analyzer
• interface

詳細情報

• CRID: 1390001206456984832
• NII論文ID: 130005997139
• NII書誌ID: AN00334149
• DOI: 10.1380/jsssj.38.378
• ISSN: 18814743
• ISSN: 03885321
• NDL書誌ID: 028468949
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I028468949
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/jsssj/38/8/38_378/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可