大気圧下での光電子分光測定に向けた装置開発

• 高木 康多

  分子研:総研大

• 中村 高広

  分子研

• Liwei Yu

  分子研

• 坂田 智裕

  電通大

• 関澤 央輝

  電通大

• 宇留賀 朋哉

  電通大:JASRI/SPring-8

• 唯 美津木

  名大物質国際セ

• 岩澤 康裕

  電通大

• 横山 利彦

  分子研:総研大

書誌事項

タイトル別名

• The development of the ambient pressure x-ray photoelectron spectroscopy.

抄録

我々はSPring-8のBL36XUに雰囲気制御型硬X線光電子分光装置を立ち上げ、3000Paのガス雰囲気下での硬X線光電子分光測定に成功した。現在はこの装置の限界測定圧力の上限を上げ、最終的には大気圧下での測定を達成を目標に装置の改良を行っている。今回は開発してきた様々なシステムを紹介し、最新の測定結果をもとに大気圧下での光電子分光測定達成の可能性と道筋について発表する。

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 71.2 (0), 2370-2370, 2016

  一般社団法人 日本物理学会

キーワード

• 表面界面電子物性
• 金属
• その場観察

詳細情報

• CRID: 1390001205960627328
• NII論文ID: 130006245111
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.71.2.0_2370
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可