活性イオウ分子を介した親電子ストレス防御

DOI

書誌事項

タイトル別名
  • Protective role of reactive sulfur species under electrophilic stress

抄録

<p>メチル水銀（MeHg）などによる親電子ストレスに対応するため、生体はレドックス活性の高いシステイン残基を有すセンサータンパク質による当該物質の感知と、その下流で活性化する応答系からなるレドックスシグナル伝達経路をもつ。最たるはKeap1/Nrf2経路であり、親電子物質のGSH抱合・細胞外排出関連因子を発現亢進する。一方で、生体内にてイオウ転移酵素を介しCysSSHやGSSHなどその分子内に易転移性のサルフェン硫黄を有する分子群が産生されることが明らかとなった。活性イオウ分子（RSS）と称されるこの分子群は高い求核性により親電子物質をイオウ付加体へと変換して不活化し、細胞内レドックスバランス維持に寄与することが明らかとなってきた。実際に、ノックアウトマウス個体および肝細胞を用いた解析にてRSS産生酵素の一つcystathionine γ-lyase（CSE）の欠損およびNrf2の欠損はいずれもMeHg、カドミウム（Cd）曝露に脆弱性を示した。重要なことに、それら単独欠損に比しCSE/Nrf2両欠損はMeHg、Cdを含め様々な親電子物質への脆弱性をより増強した。これはCSEを介すRSS産生経路が、Keap1/Nrf2経路と並列的な親電子ストレス防御機構であることを示す。生体内でのRSS分布量を詳らかとするため、ラット脳の各発達段階・部位を解析した。RSSは胎生期から出生後まで発達段階に応じ脳内量が増加し、成体脳では相対的に海馬で高く小脳で低かった。MeHg曝露による脳の細胞傷害は特異性をもつが、MeHgに脆弱な時期・部位はRSS量の僅少さを示すものと符合した。MeHg曝露下でRSSが消費されることを考え合わせると、RSSはMeHg曝露に際し脳内レドックスバランスの維持に寄与しており、言い換えればその生体内含量がMeHgによる細胞傷害特異性をもたらす一因子であることが示唆された。</p>

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390004222615117568
  • NII論文ID
    130007898622
  • DOI
    10.14869/toxpt.47.1.0_s30-5
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

問題の指摘

ページトップへ