平行線投影を用いた連続領域の検出による高密度なワンショット形状復元

• 佐川立昌

• 川崎洋

• 古川亮

• 清田祥太

収録刊行物

• 画像の認識・理解シンポジウム(MIRU2011)論文集

  画像の認識・理解シンポジウム(MIRU2011)論文集 (2011), 416-423, 2011-07-20

詳細情報

• CRID: 1571135653064992256
• NII論文ID: 170000067245
• Web Site: http://id.nii.ac.jp/1001/00077700/
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles