Evaluation of atomic hydrogen effect using polycrystalline Ge thin-film transistors
収録刊行物
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- Japanese Journal of Applied Physics
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Japanese Journal of Applied Physics 58 (6), 068006-, 2019-05-31
IOP Publishing
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1360566399836214144
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- NII論文ID
- 210000156035
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- ISSN
- 13474065
- 00214922
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- データソース種別
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- Crossref
- CiNii Articles