Absolute measurement of normalized thickness, t/λi, from off-axis electron holography
収録刊行物
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- Ultramicroscopy
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Ultramicroscopy 53 (3), 283-289, 1994-03
Elsevier BV
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キーワード
詳細情報
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- CRID
- 1362544419637976192
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- NII論文ID
- 30008698451
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- ISSN
- 03043991
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- データソース種別
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- Crossref
- CiNii Articles