High-resolution in situ electron microscopy of a silicon surface modification by molten aluminium at high temperatures
収録刊行物
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- Philosophical Magazine Letters
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Philosophical Magazine Letters 79 (12), 913-918, 1999-12
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1362262943304255104
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- NII論文ID
- 30016501071
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- ISSN
- 13623036
- 09500839
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- データソース種別
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- Crossref
- CiNii Articles