解説 原子間力顕微鏡による疲労き裂発生の観察 (特集 21世紀の材料試験技術)

収録刊行物

材料試験技術  

材料試験技術 46(1), 8-14, 2001-01 

材料試験技術研究会

各種コード

  • NII論文ID(NAID) :
    40004381765
  • NII書誌ID(NCID) :
    AN0033237X
  • 本文言語コード :
    JPN
  • ISSN :
    02852470
  • NDL 記事登録ID :
    5655318
  • NDL 雑誌分類 :
    ZM16(科学技術--科学技術一般--工業材料・材料試験)
  • NDL 請求記号 :
    Z14-864
  • 収録DB :
    NDL