AESによるセラミックス表面の正確な定量補正方法の検討

• 下間 靖彦

• 一村 信吾

書誌事項

タイトル別名

• AES ニ ヨル セラミックス ヒョウメン ノ セイカク ナ テイリョウ ホセイ ホウホウ ノ ケントウ

収録刊行物

• Journal of surface analysis / 表面分析研究会 編

  Journal of surface analysis / 表面分析研究会 編 7 (2), 196-202, 2000-06

  東京 : 表面分析研究会

詳細情報

• CRID: 1521699230309943936
• NII論文ID: 40005083427
• NII書誌ID: AA11448771
• ISSN: 13411756
• NDL書誌ID: 5422343
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I5422343
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM35(科学技術--物理学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles