Quenched Phason Strains in Al-Mn-Si Icosahedral Quasicrystal Studied by High Resolution Electron Microscopy

• Kenji Hiraga

• Makoto Hirabayashi

書誌事項

タイトル別名

• Quenched Phason Strains in Al Mn Si Ico

抄録

記事分類: 物理学--分子・物性

収録刊行物

• Journal of electron microscopy

  Journal of electron microscopy 36 (6), p353-360, 1987

  Oxford : Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press

詳細情報

• CRID: 1522825129567120128
• NII論文ID: 40005328145
• NII書誌ID: AA00697060
• ISSN: 00220744
• NDL書誌ID: 3164312
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I3164312
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles